구 분 가격
(만원)		 기 타 납기
C
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시
리
즈
 M
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L		 CMT-SR1000N (Sample용) S/W 포함 2~12주
CMT-SR2000N (8" Wafer용) S/W 포함
CMT-SR3000 (Glass 용)   Glass Size별 주문제작
CMT-SR5000 (12" Wafer용)   주문제작
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N		 Probe Head 수명:10만번 측정(소모품) 1~5주
VLSI Standard Wafer Certificate포함. 3"Wafer 8주
Operating PC / Printer Pentium III / Color Printer  
Jandel
시리즈
(수입품)		 ① Test Unit   8주
② Cylindrical Probe Head  
③ Hand applied Probe  
④ Probe Stand  
⑤ Mini Probe station ⑥ Tip별도
⑦ Marcor Probe(고온용)  


1. Jandel 시리즈 구성
  • ①+② = Probe Head를 손에 쥐고, Sample과 Contact 하여 측정.
  • ①+③ = Hand applied probe를 측정하고자 하는 곳에 올려 놓고, Sample과 Contact 하여 측정.
  • ①+②+④ = Probe Stand의 Stage위에 Sample을 올려놓고, 레버를 이용하여 Contact하여 측정.
  • ①+⑤+⑥ = Mini Probe station 구성.
  • ①+⑦ = 고온용 Probe(Max 350°)를 이용해 고온의 Sample을 측정. (Chamber 와 Hot chuck은 당사에서 취급하지 않습니다.)
2. 본 가격표는 2002년 10월에 작성된 것이며, 환율등의 변동에 의해 변경될 수 있습니다.

3. 당사는 모든 제품을 직접판매하고 있습니다. 당사의 승인이 없는 중간상인의 견적은 거래가 이루어지지 않을 수 있습니다.

4. 기타 문의
    과장 최양권 (영업 담당)  휴대:(011)705-8470

    과장 서재선 (S/W 담당)  휴대:(011)894-3754

    대리 고영찬 (H/W & A/S 담당)  휴대:(018)311-5339